产品概要：
在可控温度的工作台上，对封装之后（COS、TO56、C-mount、F-mount、CCP等封装形式）的半导体激光芯片器件自动测定其光功率、电气、波长、FFP等特性。
-对贴片好的COS、C-mount、TO封装模块做全面表征测试
-在特殊设计的脉冲电流或者CW模式下取得PIV曲线、光谱特性和远场特性，
-可测试器件的COD特性
-高速测量能力: 500数据点PIV只需要5秒
-电流范围宽：标准电流范围0-25A（可配置到0-0.5A， 0-5A）
-电流波形选择宽： 50微秒脉冲宽度到连续电流
产品特点：
-快速度、高精度测量
-机台可根据用户创建、修改的recipe进行自动测试
-提供测试数据分析的专业软件
-测试参数全面，兼容性强
-友好的人机交互界面，操作简单，易于使用
-可根据用户需要定制
在线咨询
025-66045916
